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寧波旗辰儀器有限公司


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涂鍍層測厚儀XDV-

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所  在  地寧波市

聯(lián)系方式：岳蓓查看聯(lián)系方式

更新時間：2024-08-17 10:35:10瀏覽次數(shù)：111次

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經(jīng)營模式：經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品：1525條

所在地區(qū)：浙江寧波市

聯(lián)系人：岳蓓 （銷售助理）

產(chǎn)品簡介

涂鍍層測厚儀XDV-;是專為在極微小結(jié)構(gòu)上進行高精度鍍層厚度測量和材料分析而設(shè)計的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細管透鏡，光斑直徑（FWHM）可達10至60#181;m。短時間內(nèi)就可形成高強度聚焦射線。除了通用型XDV-#181;型儀器，還有專門為電子和半導(dǎo)體行業(yè)而設(shè)計的儀器。

詳細介紹

涂鍍層測厚儀XDV-µ應(yīng)用：

鍍層厚度測量

1、測量未布元器件和已布元器件的印制線路板

2、在納米范圍內(nèi)測量復(fù)雜鍍層系統(tǒng)，如引線框架上Au/Pd/Ni/CuFe的鍍層厚度

3、對大12英寸直徑的晶圓進行全自動的質(zhì)量監(jiān)控

4、在納米范圍內(nèi)測量金屬化層（凸塊下金屬化層，UBM）

5、遵循標(biāo)準(zhǔn) DIN EN ISO 3497 和 ASTM B568

材料分析

1、分析諸如Na等極輕元素

2、分析銅柱上的無鉛化焊帽

3、分析半導(dǎo)體行業(yè)中C4或更小的焊料凸塊以及微小的接觸面

涂鍍層測厚儀XDV-µ特點：

1、Advanced polycapillary X-ray optics that focus the X-rays onto extremely small measurement surfaces

2、的多毛細管透鏡，可將X射線聚集到極微小的測量面上

3、現(xiàn)代化的硅漂移探測器（SDD），確保的檢測靈敏度

4、可用于自動化測量的超大可編程樣品平臺

5、為特殊應(yīng)用而專門設(shè)計的儀器，包括：

  • XDV-μ LD，擁有較長的測量距離（至少12mm）
  • XDV-μLEAD FRAME，特別為測量引線框架鍍層如Au/Pd/Ni/CuFe等應(yīng)用而優(yōu)化 
  • XDV-μ wafer,配備全自動晶圓承片臺系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：測厚儀

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