ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置

ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù)，可將X射線聚集成10m射線束。不但可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行形貌掃描，也可對(duì)樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描，甚至還可以實(shí)現(xiàn)元素掃描.

產(chǎn)品介紹

ROHS/ELV/WEEE有害元素?zé)晒釾射線檢查裝置

在保留XGT-1000WRX射線熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)的基礎(chǔ)上，Horiba又推出用于微區(qū)分析的X熒光分析儀。XGT-5000WR/5700WR采用Horiba技術(shù)，可將X射線聚集成10µm射線束。不但可以對(duì)樣品的表面進(jìn)行形貌掃描，也可對(duì)樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)透視掃描，甚至還可以實(shí)現(xiàn)元素掃描.

概要

應(yīng)用

PCB基板的掃描為例

 

電子組件內(nèi)部的異物、故障解析為例

特征

	XGT-5700WR系列
X線照射徑	Ø3mm標(biāo)準(zhǔn) Ø100μm或Ø10μm
一次X線濾膜	Ø3mm照射徑:4種自動(dòng)切換 Ø10μm照射徑:無濾膜 Ø100μm照射徑:無濾膜
二次X線濾膜	用于金屬中有害元素高靈敏度測定的標(biāo)準(zhǔn)裝備 （ON/OFF自動(dòng)切換）
X線檢測器	液體氮?dú)饫鋮s3L
	高純度Si檢測器
樣品形狀	不超過350×400×40mm
樣品載臺(tái)	掃描范圍：100×100mm? 200×200mm（可選）