高頻絕緣介電常數(shù)測量儀

  ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)

ZJD-C高頻絕緣材料介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、ZJD-B/C型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入ZJD-B或ZJD-C的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。高頻絕緣介電常數(shù)測量儀系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動測量的解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數(shù)通過公式計(jì)算得到。使用ZJD-B或ZJD-C數(shù)字Q表具有自動計(jì)算介電常數(shù)（ε）和介質(zhì)損耗（tanδ）。

ZJD-C介電常數(shù)/介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)系統(tǒng)組成：

• 高頻絕緣介電常數(shù)測量儀主機(jī)：ZJD-B/C 高頻Q表

• S916（數(shù)顯）或S914介電常數(shù)ε_r和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置：

固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調(diào) ≥ 15mm （二選一）  

液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm（選配）

LKI-1電感組

注意: 可定制100MHz電感.

附件 在高溫下測試介電常數(shù)

     在高溫下測試材料的介電常數(shù)需要有高溫測試平臺,以及特殊的耐高溫測試夾具.再配合上Q表主機(jī),以完成在高溫下測試材料的介電常數(shù).

     測試方法:把材料放在測試夾具的極片內(nèi)上下夾住,然后把測試夾具放在高溫測試平臺內(nèi),通過引線連接測試夾具的信號輸出段與Q表主機(jī)的電容接線柱.以此使Q表諧振,等到數(shù)據(jù).

一  高溫測試平臺參數(shù)

    帶升降高溫測試平臺是為高溫材料電性能測試專門設(shè)計(jì)的高溫環(huán)境。包括高溫實(shí)驗(yàn)電爐、溫度控制器、升降裝置、溫度傳感器、石英玻璃杯、箱體等部件。

溫度范圍 RT1000℃ (根據(jù)不同型號,溫度不同)

探針數(shù)量 4

控溫方式恒溫、變溫、

頻率范圍DC~50MHz

二 高溫測試夾具參數(shù)

   精密高溫介電夾具是嚴(yán)格依據(jù)A S T M 1 5 0標(biāo)準(zhǔn)要求， 并針對高溫環(huán)境進(jìn)行設(shè)計(jì)， 用于精確測量材料的介電性能。由上電極調(diào)節(jié)裝置、調(diào)節(jié)支撐架、樣品平臺、隔熱層、接線盒組成

溫度范圍 RT~600℃~1000℃(根據(jù)不同型號,溫度不同)

校準(zhǔn)頻率 DC~30MHz

測試電極 2個測試電極+保護(hù)電極

電極直徑 26.8mm

樣品大小 厚度小于10 mm，直徑5~40mm

終端連接 4*SMA母頭

微調(diào)行程 10mm

外形尺寸 W180mm*H270mm*D300mm

重 量 4KG