詳細(xì)介紹
inTEST ATS-545-M ThermoStream 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)
上海伯東美國(guó) inTEST 高低溫測(cè)試機(jī)中國(guó)總代理: Temptronic ThermoStream ATS-545-M 溫度范圍 -75°C 至 +225°C;專(zhuān) ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì),不需要液態(tài)氮?dú)猓↙N2)或液態(tài)二氧化碳(LCO2)冷卻。ATS-545-M 是舊款高低溫測(cè)試機(jī) Temptronic TPO4310 和 Thermonics T-2820 全新升級(jí)款!inTEST Temptronic 超高速高低溫測(cè)試機(jī)適用于電子元件、集成電路 IC、PCB 電路板的高低溫測(cè)試。
Temptronic ThermoStream ATS-545-M 技術(shù)參數(shù):
型號(hào) | 溫度范圍 °C | * 變溫速率 | 輸出氣流量 | 溫度 | 溫度顯示 | 溫度 |
ATS-545-M | -75 至 + 225(50 HZ) | -55至 +125°C | 4 至 18 scfm | ±1℃ | ±0.1℃ | T或K型 |
* 一般測(cè)試環(huán)境下;變溫速率可調(diào)節(jié)
inTEST Temptronic 高低溫沖擊測(cè)試機(jī)功能特點(diǎn):
與友廠對(duì)比,inTEST ThermoStream *的專(zhuān) 自動(dòng)復(fù)疊式制冷系統(tǒng)(auto cascade refrigeration)保證低溫,內(nèi)置 AC 交流壓縮機(jī),冷凍機(jī)(Chiller)特殊設(shè)計(jì),制冷劑不含氟利昂、安全無(wú)毒、不易燃,有效保護(hù)環(huán)境;專(zhuān) ESD 防靜電保護(hù)設(shè)計(jì)
旋鈕式控制面板,支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。
過(guò)熱溫度保護(hù):出廠設(shè)置溫度 +230°C
加熱模式下,冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式,以減少電力消耗
干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面,防止水氣凝結(jié)
ATS-545-M 高低溫測(cè)試機(jī)尺寸和重量:
尺寸: 寬61.0 cm, 深 72.4 cm, 高 108 cm
凈重 236 kg, 毛重 365 kg
與傳統(tǒng)高低溫測(cè)試箱、溫濕度測(cè)試箱對(duì)比,inTEST ThermoStream 高低溫測(cè)試機(jī)主要優(yōu)勢(shì):
1、變溫速率更快
2、溫控精度:±1℃
3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度,可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度
4、針對(duì)PCB電路板上眾多元器件中的某一單個(gè)IC(模塊),可單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件
5、對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)load board上的IC進(jìn)行溫度循環(huán) / 沖擊;傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類(lèi)測(cè)試。
6、對(duì)整塊集成電路板提供精確且快速的環(huán)境溫度。
inTEST 高低溫測(cè)試方法:提供兩種檢測(cè)模式 Air Mode 和 DUT Mode
通過(guò)熱流罩或測(cè)試腔將被測(cè) IC 與周邊環(huán)境隔離,然后對(duì) IC 循環(huán)噴射冷熱氣流,使IC 溫度短時(shí)間發(fā)生急劇變化,從而完成溫度循環(huán)和溫度沖擊的測(cè)試。
inTEST 高低溫沖擊測(cè)試機(jī) ATS-545-M 尺寸
寬61x深72.4 x高 108 cm
重量 365 kg
手臂延展大 160 cm
標(biāo)準(zhǔn) 高操作高度 130.3 cm;(可選188 cm)
標(biāo)準(zhǔn)低操作高度 69.1 cm;(可選81.3 cm)
噪音 < 65 dBA