薄膜厚度檢測(cè)儀 薄片測(cè)厚儀 臺(tái)式膜厚測(cè)試儀 返回列表頁(yè)

薄膜厚度檢測(cè)儀 薄片測(cè)厚儀 臺(tái)式膜厚測(cè)試儀（型號(hào)C640）采用機(jī)械接觸式測(cè)量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測(cè)試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。

產(chǎn)品特點(diǎn)：
專業(yè)——Labthink在不斷的創(chuàng)新研發(fā)和技術(shù)積累中推陳出新，使用超高精度的位移傳感器、科學(xué)的結(jié)構(gòu)布局及專業(yè)的控制技術(shù)，實(shí)現(xiàn)的測(cè)試穩(wěn)定性、重復(fù)性及精度。
高效——采用高效率、自動(dòng)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，有效簡(jiǎn)化人員參與過(guò)程；智能的控制及數(shù)據(jù)處理功能，為用戶提供更便捷可靠的試驗(yàn)操作和結(jié)果處理。
智能——搭載Labthink版控制分析軟件，具有友好的操作界面、智能的數(shù)據(jù)處理、嚴(yán)格的人員權(quán)限管理和安全的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)；支持Labthink*的DataShieldTM數(shù)據(jù)盾系統(tǒng)注3（可選配置），為用戶提供極為安全可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試報(bào)告管理功能。

薄膜厚度檢測(cè)儀 薄片測(cè)厚儀 臺(tái)式膜厚測(cè)試儀測(cè)試原理：
將預(yù)先處理好的薄型試樣的一面置于下測(cè)量面上，與下測(cè)量面平行且中心對(duì)齊的上測(cè)量面，以一定的壓力，落到薄型試樣的另一面上，同測(cè)量頭一體的傳感器自動(dòng)檢測(cè)出上下測(cè)量面之間的距離，即為薄型試樣的厚度。

參照標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ASTM/D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM/D374、ASTM /D1777、ASTM/D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702
中國(guó)《藥品生產(chǎn)質(zhì)量管理規(guī)范》（GMP）對(duì)軟件的有關(guān)要求（可選配置）

技術(shù)參數(shù)：
C640M
測(cè)試范圍（標(biāo)配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復(fù)性                  0.8μm
測(cè)量范圍（選配1）       0～6mm
測(cè)量范圍（選配2）       0～12mm
測(cè)量間距                0～1000（可設(shè)定）mm
進(jìn)樣速度                1.5～80（可設(shè)定）mm/s
測(cè)量方式機(jī)械接觸式
測(cè)量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2
C640H
測(cè)試范圍（標(biāo)配）        0～2mm
分辨率                  0.1μm
重復(fù)性                  0.4μm
測(cè)量范圍（選配1）       0～6mm
測(cè)量范圍（選配2）       0～12mm
測(cè)量間距                0～1000（可設(shè)定）mm
進(jìn)樣速度                1.5～80（可設(shè)定）mm/s
測(cè)量方式機(jī)械接觸式
測(cè)量壓力及接觸面積薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2
紙張：100±1 kPa(標(biāo)準(zhǔn)配置) / 50±1 kPa（可選配置）、200 mm2

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