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詳細介紹
X熒光光譜儀
| 1 儀器概述 |
| XTU-50鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過3年研發(fā)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統(tǒng)；人性化操作界面；*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。 |
| 2 性能優(yōu)勢 |
| 1.*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行精準測試 2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量，開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術 3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度 4.業(yè)內(nèi)提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做的鍍層分析工作曲線 5.三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害 6.儀器外部對樣品微調(diào)設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性 7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求 8.業(yè)內(nèi)*家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用 9.軟件對多次測試結(jié)果進行統(tǒng)計分析功能 10.業(yè)內(nèi)*家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF |
| 2.3 儀器技術指標 |
| 1、儀器尺寸：550(W)x480(D)x470(H)mm 2、樣品腔尺寸：500*360*215mm； 3、低檢測厚度：0.005um 4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定） 5、多測試層數(shù)：10層 6、小測量面積：0.002mm 7、X熒光光譜儀分辨率：見下面探測系統(tǒng)詳細參數(shù)說明 8、準直器：Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換 9、濾光片：5種濾光片自動切換 10、CCD觀察：260萬像素高清CCD 11、樣品微動范圍：XY50mm 12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz 13、額定功率：350W 14、重量：約45Kg 15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃ 16、工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結(jié)露） 17、穩(wěn)定性:多次測量重復性誤差小于0.1% |
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