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詳細介紹
XRF檢測設(shè)備
采用德國專業(yè)技術(shù)，可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設(shè)計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。
一、技術(shù)指標
型號： | IDP-7300 | |
測試對像： | 粉末、固體、液體 | |
元素分析范圍： | 鈉（Na）－鈾（U） | |
同時多可測元素： | 36種 | |
含量分析范圍： | 1ppm～99.99% | |
工作穩(wěn)定性： | 總熒光強度為0.1％ | |
測試時間： | 60～200秒 | |
探測器分辨率： | 127eV±5 | |
多道分析器： | 4096道 | |
進口DSP數(shù)字信號處理芯片 | 64位處理 | |
X射線光管： | 功率50W，靶材可選Ag、Rh、W、Mo | |
高壓電源： | 電壓范圍0~50KV，穩(wěn)定度每小時小于0.05% | |
低檢出限： | Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm | |
探測系統(tǒng)： | 全自動對點探測系統(tǒng)鼠標點擊,自動對點 | |
升降軟件系統(tǒng)： | 電控全自動機蓋升降軟件獨立控制 | |
外型尺寸： | 720mm×560mm×450mm(不包括支腳) | |
測量倉： | 400mm×280mm×100mm | |
重量： | 60Kg | |
鍍層技術(shù)參數(shù)： | ||
可測鍍層數(shù)： | 多可達5層 | |
鍍層種類： | 單金屬鍍層、合金鍍層 | |
鍍層識別精度： | 分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm。 | |
厚度測試范圍： | 輕金屬（如：Ti、Cr等）0.01～50um 中金屬（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um 重金屬（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um | |
標準配置
配置 | 數(shù)量 | 單位 |
儀器主機部分主要配置 | 1 | 套 |
1. SDD硅漂移探測器(進口) AMPTEK | 1 | 套 |
2.低功率X光管 | 1 | 個 |
3. 高壓電源 | 1 | 個 |
4. 2048道數(shù)字多道分析器 | 1 | 套 |
5. 高精密CCD | 1 | 個 |
6. 濾光片組 | 5 | 組 |
7. 準直器：8種準直器自動切換 | 6 | 個 |
|
XRF檢測設(shè)備性能優(yōu)勢：
采用極速探測器技術(shù)；
分辨率低至125eV；
探測信噪比更強，檢出限更低；
采用行業(yè)*的數(shù)字多道技術(shù)；
采用大功率X光管及*的準直濾光系統(tǒng)；
光閘系統(tǒng)，提高測試效率與測試精度；
精密的定位系統(tǒng)，更清晰的顯示測試點；
多點測試，多點連續(xù)測試超小樣品檢測；
人性化的設(shè)計：更安全、更快捷：預(yù)約預(yù)熱：預(yù)約關(guān)機。
優(yōu)點：
1、可測ROHS及金屬鍍層，ROHS/無鹵元素分析可以一次性測試完成，無需分開測試。
2、核心配件均采用進口件
3、儀器測試過程中無意開蓋，儀器裝有開蓋切斷開關(guān)，可預(yù)防輻身安全。
4、每年進行儀器免費檢測調(diào)校
5、X光管設(shè)計使用壽命為2萬小時.德譜*的延長光管使用壽命的技術(shù)：
(1)、光管自動防老化功能。
(2)、自動跟進不同材質(zhì)選擇不同的光管電流。
(3)、強大的散熱系統(tǒng)保證光管正常的工作條件;
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