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XJP-405大平臺工業(yè)金相顯微鏡

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更新時間:2018-10-16 13:27:45瀏覽次數:932

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產品簡介

產地 國產 產品新舊 全新
XJP-405大平臺工業(yè)金相顯微鏡可進行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對硅片、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。

詳細介紹

XJP-405大平臺工業(yè)金相顯微鏡配有大移動范圍的載物臺、落射照明器、平場無限遠長工作距離明暗場物鏡、大視野目鏡、圖像清晰,襯度好。是針對半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產業(yè)、治金工業(yè)開發(fā)的,作為高級工業(yè)顯微鏡使用。可進行明暗場觀察、落射偏光、DIC觀察,廣泛用于工廠、研究機構、高等院校對硅片、電路基板、FPD、精密模具的檢測分析。
技術參數

技術規(guī)格

觀察頭

30°鉸鏈式三目(50mm-75mm)

目鏡

WF10×/25mm

WF10×/20mm,帶0.1mm十字分劃板

轉換器

帶DIC插孔明暗場五孔轉換器

物鏡

平場無限遠長工作 距離明暗場物鏡:5×/0.1B.D/W.D.29.4mm

10×/0.25B.D/W.D.16mm

20×/0.40B.D/W.D.10.6mm

40×/0.60B.D/W.D.5.4mm

平臺

雙層移動平臺

平臺尺寸: 350mm×310mm

移動范圍:250mm×250mm

濾色片

插板式濾色片(綠、藍、中性)

調焦

粗、微動同軸調焦,采用齒輪齒條傳動機構 微動格值0.002mm

光源

落射照明:帶孔徑光欄和視場光欄,鹵素燈12V/100W,AC85V-230V亮度可調節(jié)

偏光裝置

檢偏鏡可360度轉動,起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路

檢測工具

0.01mm測微尺

可供附件

目鏡:WF15×/17mm、WF20×/12.5mm

130萬、200萬、300萬、500萬像素CMOS電子目鏡

平場無限遠長工作距離明暗場物鏡:50×/0.55B.D/W.D.5.1mm、

80×/0.75B.D/W.D.4mm、100×/0.80B.D/W.D.3mm

二維測量軟件

專業(yè)金相圖像分析軟件

DIC(10×、20×、40×、100×)

攝影裝置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×

壓平機

彩色1/3寸CCD 520條線

XJP-405大平臺工業(yè)金相顯微鏡特點說明
1.  采用了UIS高分辨率、長工作距離無限光路校正系統(tǒng)的物鏡成像技術。
2.  拓展了物鏡的復用技術,無限遠物鏡與所有觀察法相兼容包括明暗視野法、偏光法,并在每一
觀察法中均提供高清晰的圖像質量。
3.  采用非球面Kohler照明,增加觀察亮度。
4.  WF10X(Φ25)超大視野目鏡,長工作距離明暗場金相物鏡。
5.  可插DIC微分干涉裝置的轉換器。

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