上海百賀儀器科技有限公司

主營產(chǎn)品: 拉力試驗機,顯微鏡,硬度計

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聯(lián)人:
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劍川路951號滄源科技園A樓
編:
200240
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日本電子掃描電鏡JSM-IT300
日本電子掃描電鏡JSM-IT300
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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
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  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 上海市

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更新時間:2024-05-10 07:53:11瀏覽次數(shù):184

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【簡單介紹】
日本電子掃描電鏡JSM-IT300
【詳細(xì)說明】

產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)品編號: 日本電子掃描電鏡JSM-IT300所屬品牌: 日本電子
產(chǎn)品型號: JSM-IT300 額定功率:按實際方案提供
所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 顯微觀察
應(yīng)用領(lǐng)域: 所有工業(yè)領(lǐng)域
產(chǎn)品特性: JSM-IT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對W-SEM機型的期待,新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。
下載相關(guān)資料

日本電子掃描電鏡JSM-IT300

高質(zhì)量觀察 細(xì)微結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步觀察

? 全新電子光學(xué)系統(tǒng)的高質(zhì)量成像

? 新差動排氣系統(tǒng)擴大了低真空壓力范圍

高通量 的快速處理能力支持新一代操作環(huán)境

? 操作直觀的觸控屏界面

? 高通量樣品室

? EDS 集成化,一觸式分析。

高擴展性 多接口擴展了分析范圍

? 多用途樣品室

? 豐富的選配件

EDS、雙 EDS 探測器、WDS、EBSD 等多個預(yù)備接口。

全新電子光學(xué)系統(tǒng)的高質(zhì)量成像


JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對 W-SEM 機型的期待,新的鏡筒設(shè)計和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

二次電子像

通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉??梢杂酶叩姆直媛视^察微觀結(jié)構(gòu)。

背散射電子像

通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像,能觀察到每個碳化鎢顆粒的通道襯度。

新的掃描系統(tǒng)使低加速電壓下的圖像質(zhì)量更高

幀累積法能抑制荷電效應(yīng),對極易充電的樣品可以輕松地進(jìn)行觀察。

新的掃描方式能減輕樣品的帶電,不易受到樣品漂移的影響,即使是容易充電的樣品,高倍率下的圖像質(zhì)量也得到了顯著的提高。

低真空模式

全新的差動抽氣系統(tǒng)

新的差動抽氣系統(tǒng)顯著提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量,此外,低真空模式的

壓力可高達(dá) 650Pa,進(jìn)一步擴大了應(yīng)用范圍。

低真空擴展了壓力 :高達(dá) 650Pa

含有大量水分的軟樣品可能會由于樣品室內(nèi)的壓力而無法保持原有的結(jié)構(gòu),這樣的

樣品不進(jìn)行特殊處理就無法觀察。但低真空壓力范圍擴展到 650 Pa 就可以進(jìn)行觀

察,即使沒有特殊處理對樣品的損傷也很小。

低真空二次電子像

即使是低真空模式下,通過低真空二次電子像也能清晰地觀察有機材料的表面細(xì)節(jié)。

EDS 集成化 EDS 一觸式分析

JSM-IT300A/LA

JEOL 是世界上一家集開發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中,輕觸屏幕即可進(jìn)行分析。

一觸式分析

在 SEM 的操作界面上,只需輕觸圖標(biāo)就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體化集成,提高了通量和易用性。

基本的分析操作,在 SEM 的 GUI 上一觸即成。

在 SEM 的 GUI 上,輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。



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