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高低溫試驗，高溫高濕試驗依據(jù)準則一
最近更新時間：2014-3-8
提 供 商：東莞市偉煌試驗設(shè)備有限公司資料大小：259.2KB
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GB/T 5170包含以下部分：
——GB/T 5170.1－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則
——GB/T 5170.2－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備
——GB/T 5170.5－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 濕熱試驗設(shè)備
——GB/T 5170.10－2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
——GB/T 5170.17－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合 順序試驗設(shè)備
——GB/T 5170.18－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備
本部分是GB/T 5170的第1部分。
本部分代替GB/T 5170.1－1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則》。
本部分與GB/T 5170.1－1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則》相比，技術(shù)內(nèi)
容主要有如下變化：
——標準名稱“電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則”更改為“電工電子產(chǎn)品環(huán)境
試驗設(shè)備檢驗方法 總則”；
——增加了前言；
——所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；
——刪除了術(shù)語“指示點”；
——修改了“溫度波動度”的定義和計算方法；
——修改了“溫度變化速率”的定義和計算方法；
——增加了“相對濕度波動度”的定義和計算方法；
——增加了“相對濕度均勻度”的定義和計算方法；
——增加了“每 5min 溫度平均變化速率”的定義和計算方法；
——增加了“溫度指示誤差”的定義；
詳情請看附件：