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詳細介紹
C測試儀3504-50
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實現(xiàn)高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
基本參數(shù)
測量參數(shù) | Cs,Cp（電容）,D（損耗系數(shù)tanδ） |
測量范圍 | C:0.9400pF～20.0000mF |
基本精度 | （代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 |
測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (3504-60)，500 mV, 1 V |
輸出電阻 | 5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時） |
顯示 | 發(fā)光二級管（6位表示，滿量程計算器根據(jù)量程而定） |
測量時間 | 典型值: 2.0 ms（1 kHz, FAST） |
功能 | BIN分類測量(3504-40除外),觸發(fā)同步輸出,測量條件記憶,測量值的比較功能,平均值功能, Low-C篩選功能,振動功能,控制用輸出輸入(EXT. I/O), RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外) |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz,110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1 |
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