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顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)

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更新時間:2023-09-16 08:46:59瀏覽次數(shù):149

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產(chǎn)品簡介

檢測顆粒≥1um自動測量并計算出單個顆粒的面積、寬度、內(nèi)切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長徑比以及長徑分布等尺寸高精度XYZ三軸自動掃描臺,可執(zhí)行自動聚焦功能高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級別以上CCD攝像頭單張濾膜檢測及5μm以上顆粒的掃描時間和評價時間最小1分鐘自動調(diào)節(jié)光強、自動聚焦、多視場自動掃描、自動采集圖像、自動顆粒統(tǒng)計分析自動辨別金屬顆粒、非金屬顆粒自動查詢顆粒的粒徑和數(shù)量在硬件支持......

詳細介紹

創(chuàng)新點

PLD-MPCS系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)是應(yīng)用在汽車零部件、航空航天、液壓潤滑行業(yè)顆粒度檢測的專業(yè)性分析測試儀器,具有專業(yè)性強,分析性能優(yōu)異、標(biāo)準(zhǔn)模塊多、測量項目全等功能,測定結(jié)果可追溯等優(yōu)勢。

普勒新世紀(jì)實驗按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃,于2001年推向市場的成熟系統(tǒng)儀器。


產(chǎn)品性能

直觀、形象、準(zhǔn)確、測試范圍寬以及自動識別、自動統(tǒng)計、自動標(biāo)定等特點;

正偏光顯微測試可以準(zhǔn)確判別顆粒的金屬非金屬特性;

避免激光法的產(chǎn)品缺陷,擴展檢測范圍;

現(xiàn)實NASISO等國際標(biāo)準(zhǔn)方法的認可;

屬于科研級別的新型的粒度測試手段。

技術(shù)參數(shù)

自動分割速度:< 1秒分割成功率:> 93%測試范圍: 1-500μm統(tǒng)放大倍數(shù):40~l000X倍

zui大分辨率:0.1μm顯微鏡誤差:0.02(不包含樣品制備因素造成的誤差)

重復(fù)性誤差:< 5%(不包含樣品制備因素造成的誤差)

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)300萬像素

標(biāo)尺刻度:0.1μm

分析項目:粒度分布、長徑分布、圓形度分布等

軟件運行環(huán)境:Windows 2000、Windows XP

接口方式:RS232USB方式


基本配置

正置式偏振光光學(xué)顯微鏡

數(shù)字500萬級別以上的CCD攝像頭

全自動0.1微米級別的載物臺

圖像處理與分析軟件

電腦和打印機

等部分組成;

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物;

專用數(shù)字?jǐn)z像機將顯微鏡的圖像拍攝及掃描;

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng);

顆粒圖像分析軟件及平臺對圖像進行處理與分析;

顯示器及打印機輸出分析結(jié)果。


常見問題

1.系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)的技術(shù)參數(shù)有哪些?

自動分割速度:< 1秒分割成功率:> 93%測試范圍: 1-500μm統(tǒng)放大倍數(shù):40l000X

zui大分辨率:0.1μm顯微鏡誤差:0.02(不包含樣品制備因素造成的誤差)

重復(fù)性誤差:< 5%(不包含樣品制備因素造成的誤差)

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)300萬像素

標(biāo)尺刻度:0.1μm

分析項目:粒度分布、長徑分布、圓形度分布等

軟件運行環(huán)境:Windows 2000、Windows XP

接口方式:RS232USB方式


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