詳細(xì)介紹 薄膜測厚儀ST5030-SL 產(chǎn)品編號： YQ11003 技術(shù)參數(shù)： 產(chǎn)品介紹 尺寸 500 x 750 x 650 mm 重量 80Kg 類型 自動 測量型號 ≤ 4" 測量方法 無連接的 測量原理 反射計 特征 測量迅速，操作簡單 非接觸式，非破壞方式 優(yōu)秀的重復(fù)性和再現(xiàn)性 2D/3D映射和造型 自動機械活動控制 電荷耦合器件照相機 自動調(diào)焦 活動范圍 300mm x 300mm 測量范圍 100?~ 35?(Depends on Film Type) 光斑尺寸 40?/20?,4?(option) 測量速度 1~2 sec./site (fitting time) 應(yīng)用領(lǐng)域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement Intended for Large Size Wafer Measure 選擇 Reference sample(K-MAC or KRISS or NIST) Anti-vibration table 接物鏡轉(zhuǎn)換器 Quintuple Revolving Nosepiecs 焦點 Coaxial Coarse and Fine Focus Controls 附帶照明 12v 100W Halogen Lamp 產(chǎn)品規(guī)格 貨號 型號 名稱 規(guī)格 價格 備注 購買 ST5030-SL 薄膜測厚儀 測量范圍: 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type) 登陸查看 來電詢價
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