詳細(xì)介紹
Q2 ION直讀火花光譜儀
1.Q2采用了技術(shù)—平面視場(chǎng)CCD光學(xué)系統(tǒng),在光柵的色散作用下,所有的分析譜線均聚焦于平面CCD檢測(cè)器上,使得檢測(cè)器的每個(gè)像素點(diǎn)都得以充分的利用,從而獲取***清晰的分析譜圖,同時(shí),源自Bruker AXS技術(shù)平臺(tái)的譜圖解析技術(shù)采用特殊的計(jì)算方法,能夠有效去除譜圖中的背景及干擾信號(hào),從而獲得的分辨率,該技術(shù)使得Q2了傳統(tǒng)的Paschen-Runge 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),確保儀器在保持緊湊的體積同時(shí)具有強(qiáng)大的分析性能。
2.Q2 采用了一代的CCD檢測(cè)器,目前市場(chǎng)上同類(lèi)產(chǎn)品所采用的CCD檢測(cè)器在分析紫外元素時(shí),均需鍍膜,而鍍膜具有一定壽命, 在一段時(shí)間以后將直接影響儀器的分析性能,而Q2采用的為非鍍膜CCD,從而不受鍍膜壽命的影響。
3.Q2光學(xué)系統(tǒng)采用了動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償技術(shù)(AAC),該技術(shù)采用特殊的材料和結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),使得儀器可以有效補(bǔ)償因溫度變化而造成的光室熱脹冷縮現(xiàn)象,從而保持焦距的恒定。確保儀器即便在10°C至45°C之間的外界溫度變化下也具有優(yōu)異的穩(wěn)定性。
實(shí)驗(yàn)室和現(xiàn)場(chǎng)分析用發(fā)射光譜儀 Q2ION
Bruker新一代的火花直讀光譜儀Q2 ION將金屬材料的分析便捷性和簡(jiǎn)易性帶入了一個(gè)新的領(lǐng)域。Q2 ION是現(xiàn)今市場(chǎng)上***為輕巧的高性能直讀光譜儀, Q2功能強(qiáng)大,可同時(shí)配備多種基體,是來(lái)料檢驗(yàn)和成品分析的選擇.同時(shí)儀器相對(duì)低廉的價(jià)格定位及低的維護(hù)成本,使其在中小企業(yè)中備受青睞.
Q2 ION在大多數(shù)基體如鐵鋁銅的應(yīng)用中覆蓋了所有重要的合金元素。對(duì)于某些中小鑄造企業(yè),金屬加工廠,質(zhì)量管理部門(mén),原料倉(cāng)庫(kù),金屬回收企業(yè),甚至檢測(cè)機(jī)構(gòu),Q2無(wú)疑是選擇。
Q2 ION的設(shè)計(jì)使其重量只有不到20kg,可輕易攜帶到附近的場(chǎng)地進(jìn)行檢測(cè)。另外,用戶還可選配專門(mén)的行李箱以方便儀器的攜帶。盡管重量輕,Q2在構(gòu)造上堅(jiān)固耐用,可適應(yīng)各種復(fù)雜場(chǎng)所的檢測(cè)要求。整個(gè)分析過(guò)程輕松便捷,只需將樣品放置于火花臺(tái)上激發(fā),30秒內(nèi)即可獲取所有元素的含量信息。
Q2 ION所采用的平面CCD光學(xué)系統(tǒng),無(wú)疑是光學(xué)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和機(jī)械加工技術(shù)的大師級(jí)杰作,Q2還采用了動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償系統(tǒng),從而確保在10至45度的外界溫度下也具有的穩(wěn)定性。高清晰度CCD檢測(cè)器以及[譜圖解析技術(shù)使得儀器的分析性能更上一個(gè)臺(tái)階。
儀器參數(shù):
非渡膜CCD檢測(cè)器,具有***低的暗電流
平面光柵
波長(zhǎng)覆蓋范圍:170-685nm
分辨率:30pm
氬氣驅(qū)氣以確保光通量。
譜圖解析技術(shù)
動(dòng)態(tài)溫度補(bǔ)償系統(tǒng),確保在10至45度的外界溫度下具有的穩(wěn)定性
分析方法組件:
可應(yīng)用于各種不同基體
覆蓋所有主要元素及合金類(lèi)型
可適應(yīng)未來(lái)升級(jí)需要
激發(fā)源
免維護(hù),兩相PWM激發(fā)源
頻率50-1000Hz
火花臺(tái)
免維護(hù)
檢測(cè)期間氬氣消耗2.5l/min
軟件
基于Windows的操作軟件
分級(jí)用戶權(quán)限
定性及定量分析
操作軟件含分析數(shù)據(jù)庫(kù)及辦公軟件接口
牌號(hào)庫(kù)功能
電源
100-240V(50/60Hz)
檢測(cè)期間200W,待機(jī)時(shí)50W
16A慢融保險(xiǎn)絲或25A慢融保險(xiǎn)絲
尺寸
長(zhǎng)X寬x高:440mmX390mmX220mm
重量:19kg.