T2008濕法全量程激光粒度儀|大量程粒度分析儀

T2008濕法全量程激光粒度儀|大量程粒度分析儀

T2008濕法全量程激光粒度儀

一、產品簡介
T2008是一款測試范圍覆蓋毫米、微米、亞微米、納米全量程的智能全自動激光粒度儀。采用了雙光束多頻譜探測系統(tǒng)和超微顆粒測試新技術，極大的提高了儀器測試的精度和性能。代表了國內該領域的*水平。
二、適用范圍
T2008全量程濕法激光粒度儀，廣泛應用于具有高要求的水泥、陶瓷、藥品、涂料、染料、顏料、填料、化工產品、催化劑、煤粉、泥砂、粉塵、面粉、食品、添加劑、農藥、、石墨、感光材料、燃料、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉體行業(yè)。
三、主要性能特點
全新的測試原理：該款儀器在采用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換以及無約束自由擬合數(shù)據(jù)處理技術的基礎上，柔和了頻譜放大技術，從而在有限的空間內拓寬了測試范圍；
操作和校準全自動化：使用過程中，只要針對所測樣品的特性設置好測試條件后，分散、測試、沖洗等一系列操作過程便可自動完成，并得出準確、可靠的測試結果。另外，利用三維對中系統(tǒng)調節(jié)光電探測器，在避免人工調試所帶來的繁瑣的同時，對整個光路系統(tǒng)可隨時校準，保證其準確對中，從而對測試結果的準確度和穩(wěn)定性提供了有力的保障；
有效的分散循環(huán)系統(tǒng)：在配有常規(guī)的超聲和攪拌分散裝置外，還針對寬分布樣品和比重較大的顆粒，專門配備了大流量循環(huán)泵，以防止因大顆粒丟失而導致測試結果不準確的現(xiàn)象。因而，該儀器在不同的粉體行業(yè)更具有廣泛適用性；
的測試標準：采用多種微米、亞微米及納米級國家粒度標準物質，對儀器進行全量程校準標定，使其在其整個測量范圍之內得到真實、準確的測試結果。
四、T2008 激光粒度分析儀技術參數(shù)：

規(guī)格型號		T2008A	T2008D
執(zhí)行標準		ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008；Q/0100JWN001-2013
測試范圍		0.01-2000μm	0.01-1200μm
探測器通道數(shù)		127	127
準確性誤差		<1%（國家標準樣品D50值）
重復性誤差		<1%（國家標準樣品D50值）
激光器參數(shù)		主激光源：高性能He-Ne激光器 λ= 632.8nm, p>3.0mW 輔助激光源：半導體激光器，λ= 650nm；p>2mW
分散方法	超聲	頻率：f=40KHz, 功率：p=50W
	攪拌	轉速：0-3000rpm轉速可調
	循環(huán)	額定流量：30L/min 額定功率：70W
	樣品池	容量：1000mL
操作模式		軟件操作 / 全自動操作模式可切換
自動對中系統(tǒng)		全自動對中系統(tǒng)
測試速度		<2min/次
體積		660mm*320mm*400mm
重量		65Kg

五、產品特點
1.采用全內置分散系統(tǒng)：使用大功率循環(huán)泵，對管路進行優(yōu)化設計，使整體控制協(xié)調性達到水平，有效的防止了大顆粒的二次沉淀。
2.采用精密四項混合式步進電機組成光路自動對中系統(tǒng)，微動精度達到微米級別，使儀器光路始終處于好的狀態(tài)。
3.無約束自由擬合技術：無約束自由擬合技術，不受任何函數(shù)限制，可真實反映顆粒的分布狀態(tài)。
4.光路設計：采用會聚光傅立葉變換技術，使散射光不受透鏡孔徑限制；采用雙譜面光路設計，有效擴大測量范圍至2000微米；雙激光正交光路使用半導體輔助激光器測量側向散射45度至135度，將測量范圍進一步擴展。