詳細(xì)介紹
光切法顯微鏡9J(雙管顯微鏡) | ||||||||||||||||||||||||||
光切法顯微鏡9J用途: 光切法顯微鏡9J是以光切法測(cè)量零件加工表面的微觀不平度。其能判別國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1031-1995所規(guī)定測(cè)量范圍1.0~80微米即原標(biāo)準(zhǔn)▽3~▽9級(jí)表面光潔度。對(duì)于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進(jìn)行測(cè)量。 光切法特點(diǎn)是在不破壞表面的狀況下進(jìn)行的。是一種間接測(cè)量方法。即要經(jīng)過計(jì)算后才能確定紋痕的不平度。 光切法顯微鏡9J規(guī)格:
測(cè)量不平度范圍: 0.8~80 μm 不平寬度 用測(cè)微目鏡: 0.7μm~2.5 mm 用坐標(biāo)工作臺(tái): 0.01~13 mm 儀器重量: 約23 ㎏ 外形尺寸: 約180×290×470 mm 光切法顯微鏡9J儀器成套性:
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