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BI-XDC 圓盤式離心沉降粒度儀

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更新時(shí)間:2024-06-25 11:24:01瀏覽次數(shù):94

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,通過(guò)高度的數(shù)字式電機(jī)控制,是迄今為止具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率高的測(cè)量?jī)x器

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品簡(jiǎn)介:

    BI-XDC是基于經(jīng)典的離心/沉降原理,通過(guò)高度的數(shù)字式電機(jī)控制,是迄今為止具有統(tǒng)計(jì)意義的粒度儀中分辨率、準(zhǔn)確率高的測(cè)量?jī)x器。廣泛應(yīng)用于膠乳、碳黑、陶瓷和金屬粉末等行業(yè)的質(zhì)量控制方面。

詳細(xì)說(shuō)明:

工作原理

    重力或者離心力使得懸浮在樣品轉(zhuǎn)盤腔內(nèi)的顆粒可以產(chǎn)生沉降或離心運(yùn)動(dòng)。大顆粒運(yùn)動(dòng)較快,小顆粒運(yùn)動(dòng)較慢,隨著時(shí)間的增加,大小顆粒自然分級(jí)并依次通過(guò)靠近轉(zhuǎn)盤腔底內(nèi)部的檢測(cè)器,因而具有高的分辯率。
 

應(yīng)用價(jià)值

1.分辨復(fù)雜體系的粒度分布從而提高流變性能和結(jié)構(gòu)特性的分析

2.通過(guò)測(cè)量對(duì)原料進(jìn)行監(jiān)控,避免由原料帶來(lái)的生產(chǎn)問(wèn)題

3.通過(guò)簡(jiǎn)化步驟和減少測(cè)量時(shí)間來(lái)提高

4.優(yōu)化材料特性從而提高產(chǎn)品性能

5.研究體系粒度的基本構(gòu)成從而幫助新產(chǎn)品和生產(chǎn)工藝的開(kāi)發(fā)
 

典型應(yīng)用

1.PS、PVC及其它聚合物

2.炭黑

3.金屬氧化物、金屬粉末

4.油墨、氧化鋁、氧化鈦

5.制藥、化妝品、食品、粘合劑

6.涂料、無(wú)機(jī)染料

7.陶瓷、粘土、礦物

技術(shù)參數(shù)

1.進(jìn)樣方式:均相進(jìn)樣(HOST模式)探頭掃描速度:0.05~10mm/min

2.檢測(cè)光源:X射線

3.操作模式:重力沉降模式與離心沉降模式

4.粒度范圍:0.01~100um(與粘度、密度有關(guān))

5.數(shù)據(jù)庫(kù):無(wú)需消光校正

6.精度:2%

7.重復(fù)性:1%

8.旋轉(zhuǎn)盤材料:標(biāo)準(zhǔn)PMMA或特殊抗腐蝕盤

9.電機(jī)轉(zhuǎn)速:500~6000rpm,10000rpm可選

10.轉(zhuǎn)速精度:0.01%

 

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