Couloscope CMS2 STEP測厚儀膜厚儀

Couloscope CMS2 STEP測厚儀膜厚儀

我公司致力于長度計(jì)量儀器，光學(xué)儀器、形狀類儀器，材料檢測儀器，涂裝與表面處理檢測儀器的銷售與維護(hù)服務(wù)。主要代理德國FISCHER菲希爾涂層測厚儀產(chǎn)品，并且我司具有許可進(jìn)出口經(jīng)營權(quán)。本公司有專業(yè)銷售和技術(shù)人員，為客戶提供方信守合同便，快捷的售前（演示設(shè)備、介紹技術(shù)）售中（為客戶選型、滿足客戶要求），售后服務(wù)（設(shè)備維護(hù)、保養(yǎng)問題）在客戶需要的時(shí)候，我們的專業(yè)人員能夠即來到客戶現(xiàn)場，提供急需的服務(wù)。

CouloScope CMS STEP電解測厚儀簡介：
德國菲希爾涂層測厚儀CouloScope CMS STEP在電鍍行業(yè)中，對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度，并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù)。 COULOSCOPE® CMS STEP多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測量，符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
CouloScope CMS STEP電解測厚儀特性：
吸引人的設(shè)計(jì)，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
操作簡單，菜單指引的操作提示。
電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層，包括測量線材。

CouloScope CMS STEP電解測厚儀的特征：
標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕點(diǎn)陣液晶顯示屏，可顯示文字與圖形：126 * 70 mm
可設(shè)置和儲存：50個(gè)應(yīng)用程式、600個(gè)數(shù)據(jù)組；3 000個(gè)數(shù)據(jù)
統(tǒng)計(jì)：平均值、zui大值、zui小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、測量次數(shù)、Cp、Cpk 和直方圖
使用多層菜單和軟鍵，使操作更方便
RS232 接口可通過電纜和傳輸軟件將數(shù)據(jù)傳到 PC
模擬輸出： 0 ～ -18V
輸入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作溫度： 10 ℃ ～ 40 ℃
儀器重量： 6 kg
電源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D mm
COULOSCOPECMS
CouloScope CMS STEP電解測厚儀
分步測量： 鍍層厚度和電位差
COULOSCOPE CMS STEP可用于測量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金屬
基材可為 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金屬材料等

CouloScope CMS STEP電解測厚儀基本配置：
儀器：Couloscope CMS
測量臺： V24、V26、V18 等
電解液： F1 ～ F22
COULOSCOPE CMS STEP測量版本
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。

測量臺V18有1個(gè)新的測量槽設(shè)計(jì)。由于在每次測量后有一個(gè)泵會自動地排出電解液至儲液箱內(nèi)，也就不再需要手動清空測量槽了，一次注滿測量槽就可以多次測量。
測量臺V24允許靈活定位小工件。
測量臺V26主要為簡單和平面形狀的物體而設(shè)計(jì)。
測量臺V27主要為在線材上測量而設(shè)計(jì)。