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真空紫外光譜儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):PGS/PGM 200

品       牌:HORIBA

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:上海市

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更新時(shí)間:2022-06-30 16:03:07瀏覽次數(shù):553次

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產(chǎn)地 進(jìn)口 產(chǎn)品新舊 全新
HORIBA PGS/PGM 200真空紫外光譜儀憑借優(yōu)異的消像差設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)一機(jī)兩用,配合單通道探測器作為單色儀,配合CCD使用作為攝譜儀。光路由一片平面光柵和一片超環(huán)面鏡組成,為紫外光譜分析優(yōu)化設(shè)計(jì)。掠入射光路設(shè)計(jì)將可探測波長拓展到4nm,與此同時(shí),攝譜儀模式下焦平面垂直于出射光軸,使CCD上接受的光通量大化。

HORIBA PGS/PGM 200真空紫外光譜儀產(chǎn)品簡介

PGS/PGM 200光譜儀憑借優(yōu)異的消像差設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)一機(jī)兩用,配合單通道探測器作為單色儀,配合CCD使用作為攝譜儀。光路由一片平面光柵和一片超環(huán)面鏡組成,為紫外光譜分析優(yōu)化設(shè)計(jì)。掠入射光路設(shè)計(jì)將可探測波長拓展到4nm,與此同時(shí),攝譜儀模式下焦平面垂直于出射光軸,使CCD上接受的光通量大化。
 
HORIBA PGS/PGM 200真空紫外光譜儀技術(shù)特點(diǎn)
    HJY的消像差平面光柵結(jié)合超環(huán)面鏡,同時(shí)兼顧高分辨率和低像差。
    在軸設(shè)計(jì),光路易準(zhǔn)直。
    出射光直射CCD表面,光通量大。
    只需更換出射狹縫和法蘭,即可實(shí)現(xiàn)單色儀和攝譜儀之間的切換,一機(jī)兩用。
    支持超高真空10-9mbar,可接入同步輻射裝置。

1.jpg

典型應(yīng)用
    X射線光電子能譜
    等離子體物理研究
    高次諧波濾波
    紫外反射
    EUV光源表征

技術(shù)指標(biāo)

三塊標(biāo)準(zhǔn)光柵可選

54401010

1800 gr/mm 光柵,攝譜儀模式下

光譜范圍:4-16.5nm (75-310eV) 或 4-26nm (47-310eV)

出射端口色散:0.4-0.68nm/mm

分辨率:0.2nm

54402010

800 gr/mm光柵,攝譜儀模式下

光譜范圍:10-35 nm (35–124eV) 或10-56nm (22-124eV)

出射端口色散:1.0 – 1.14m/mm

分辨率:0.3nm

54406010

450 gr/mm光柵,攝譜儀模式下

光譜范圍:16-65 nm (7–80eV) 或

16-103nm (12-77eV)

出射端口色散:1.7–2.7m/mm

分辨率:0.5nm

光學(xué)設(shè)計(jì)

HJY平面光柵加超環(huán)面鏡光路設(shè)計(jì)

焦長

200 mm

孔徑

f/17

分辨率

低至0.2nm

波長驅(qū)動(dòng)

步進(jìn)電機(jī)

高真空

10-6 mbar

真空泵法蘭

DN63 LF

狹縫

測微狹縫

陣列探測器法蘭

DN100CF/ICF152

可選項(xiàng)

狹縫

自動(dòng)或固定

超高真空

10-9 mbar,配備DN100CF真空泵法蘭和DN40CF真空計(jì)接口

 

2.jpg

 

單色儀模式下測得的30.4nm 氦譜線

附件
    前鏡腔,配備兩塊超環(huán)面鏡,實(shí)現(xiàn)光源和單色儀之間的光學(xué)匹配
    后鏡腔,配備兩塊超環(huán)面鏡,實(shí)現(xiàn)單色儀和樣品室之間的光學(xué)匹配
    樣品室,可搭載4塊直徑不大于25mm的樣品
    偏振插片
    制冷機(jī),低至4K
    真空泵

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