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【邀請函】清華大學(xué)與HORIBA合作舉辦技術(shù)講座—— 脈沖射頻輝光放電光譜儀的深度剖析與廣泛應(yīng)用 | 9月26日·北京
脈沖射頻輝光放電光譜儀(GD-OES)，是薄膜與鍍層材料元素深度剖析的革命性分析工具。其檢測能力覆蓋了元素周期表中的絕大多數(shù)元素，無論是導(dǎo)體、非導(dǎo)體，還是兩者相間的復(fù)雜薄膜/鍍層結(jié)構(gòu)，均能以卓越的深度分辨率輕松應(yīng)對，同時確保測試過程既快速又準(zhǔn)確，極大地提升了科研與工業(yè)生產(chǎn)中的效率與可靠性。
作為先進(jìn)的分析測試技術(shù)供應(yīng)商，HORIBA 攜手清華大學(xué)材料學(xué)院，合作舉辦技術(shù)講座。講座將深入介紹脈沖射頻輝光放電光譜儀(GD-OES)的測量原理、構(gòu)造設(shè)計(jì)與技術(shù)特點(diǎn)，同時也將通過豐富的案例，展示該技術(shù)在金屬、半導(dǎo)體、太陽能電池、鋰電材料、儲氫材料、防腐科學(xué)研究以及燃料電池等多個領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。
9 月 26 日 (星期四) 9:00-11:00
清華大學(xué)逸夫技術(shù)科學(xué)樓 A205/A209
講師介紹
賈雅梅
HORIBA 輝光放電光譜儀應(yīng)用工程師
碩士研究生，主要負(fù)責(zé)輝光放電光譜儀的樣品測試、應(yīng)用開發(fā)及技術(shù)支持。熟悉儀器特性及各附件操作流程，掌握薄膜材料、圓柱樣品、小尺寸樣品和各類不規(guī)則樣品的測試方法，在金屬涂層、防腐研究、太陽能電池板、半導(dǎo)體材料以及燃料電池等多個領(lǐng)域具有豐富的經(jīng)驗(yàn)積累。
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