HORIBA 科學(xué)儀器事業(yè)部

納米激光粒度儀遮光比的選取問題研究

時(shí)間:2022-7-22 閱讀:907
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  在納米材料分析和研究中,通常是納米級(jí)(1至100nm)的超細(xì)顆粒。這些材料具有納米級(jí)的粒徑,因?yàn)樗鼈兙哂休^小的尺寸效應(yīng),量子尺寸效應(yīng),表面效應(yīng)和宏觀量子隧穿效應(yīng),因此它們在常規(guī)材料,催化劑,非線性光學(xué)和磁性材料中未發(fā)現(xiàn)太多特性。因此,納米材料的粒度分析已經(jīng)成為納米材料研究的重要方面。
 
  今天咱們來聊一聊使用納米激光粒度儀時(shí)遮光比的選取問題:
 
  遮光比就是在使用該儀器測試樣品時(shí),配置的樣品懸浮液的濃度,遮光比的正確選擇是在粒度測試過程中的一個(gè)重要的步驟,遮光比是否合適或者說被測樣品的濃度是否合適嚴(yán)重關(guān)系到粒度測量結(jié)果的性和代表性。
 
  在測試過程中,樣品的濃度以樣品中顆粒之間相互不發(fā)生二次散射為原則,理論上就是要求懸浮液或者空氣中顆粒之間的距離為顆粒直徑的3倍,但是這個(gè)要求非常難以掌握,因此在實(shí)際的粒度測試中,通過調(diào)整遮光比的數(shù)值來盡量顆粒之間不發(fā)生二次散射。遮光比不宜過大(超過50%)或者過小(低于5%),遮光比過大時(shí),顆粒的濃度過高,容易發(fā)生二次散射,測量結(jié)果誤差增大;遮光比過低,樣品中顆粒的濃度太低,顆粒數(shù)太少,測試結(jié)果的代表性很差,甚至可能導(dǎo)致測試結(jié)果是無效的,因此在測試過程中,對(duì)遮光比的選取要通過反復(fù)試驗(yàn),以得到正確的測量結(jié)果。
 
  一般來說,對(duì)于比較粗的樣品,遮光比可以選擇的比較高,如20~30%,正常情況可以為10~25%;對(duì)于超細(xì)的樣品,可以適當(dāng)降低樣品的遮光比,但一般不要超過40%,這些都是實(shí)驗(yàn)得到的經(jīng)驗(yàn)數(shù)值,但終還需通過反復(fù)實(shí)驗(yàn),找到對(duì)應(yīng)樣品測試時(shí)遮光比的合適數(shù)值。

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