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菲希爾Fischer XDV-SDD臺(tái)式X射線熒光涂層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2022-05-06 13:37:03瀏覽次數(shù):252

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菲希爾Fischer XDV-SDD臺(tái)式X射線熒光涂層測(cè)厚儀 XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能.強(qiáng)大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測(cè)器(SDD)。50mm的探測(cè)器窗口確保能快速而精確地測(cè)量甚至是小面積的測(cè)量點(diǎn)。此外,儀器還配備了各種不同的濾波片,從而能為不同的測(cè)量任務(wù)建立.優(yōu)化的激發(fā)條件。

詳細(xì)介紹

特點(diǎn):

  • 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測(cè)器(SDD),能高精度地測(cè)量.薄的鍍層
  • 極耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),能以極出色的長(zhǎng)期穩(wěn)定性用于連續(xù)測(cè)量
  • 可編程XY平臺(tái)和Z軸,用于自動(dòng)化連續(xù)測(cè)量
  • 擁有實(shí)時(shí)的視頻顯示和輔助激光點(diǎn),使得樣品定位變得快速而簡(jiǎn)便

應(yīng)用:

鍍層厚度測(cè)量

  • 測(cè)量極薄鍍層,如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
  • 測(cè)量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層
  • 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測(cè)量

材料分析

  • 電子、包裝和消費(fèi)品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對(duì)有害物質(zhì)(如重金屬)進(jìn)行鑒別
  • 分析黃金和其他貴金屬及其合金
  • 測(cè)定功能性鍍層的組分,如NiP鍍層中的P含量

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