5G芯片集群高低溫試驗(yàn)箱 返回列表頁(yè)

5G芯片集群高低溫試驗(yàn)箱與高低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)是同款同功能同設(shè)計(jì)的試驗(yàn)機(jī)，由于部分客戶在做測(cè)試時(shí)用低溫沖擊試驗(yàn)功能多于高溫沖擊試驗(yàn)，所以他們則稱它為低溫沖擊試驗(yàn)機(jī)或者低溫沖擊機(jī)，當(dāng)然也可以縮短叫沖擊試驗(yàn)機(jī)。

5G芯片集群高低溫試驗(yàn)箱的型號(hào)及技術(shù)參數(shù)如下：(分別是寬×高×深) (mm)

LQ-TS-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440。

LQ-TS-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440。

LQ-TS-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440。

LQ-TS-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540。

LQ-TS-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640。

LQ-TS-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150。

溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃。

所有高低溫沖擊試驗(yàn)箱的電源均采用：3∮5W AC380±10% 50/60HZ。

高溫室：預(yù)熱溫度范圍，RT 20℃~200℃升溫時(shí)間: 20℃~ 200℃約30min。

低溫室：預(yù)冷溫度范圍，RT~-80℃降溫時(shí)間: 20℃~-80℃約80min。

實(shí)驗(yàn)室沖擊：溫度均勻度±2.0℃。

內(nèi)外部材質(zhì)：內(nèi)箱為SUS 304#不銹鋼板霧面處理，外箱為冷軋鋼噴塑處理或不銹鋼。

保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料。

控制器：柳沁采用原裝韓國(guó)“TEMI"或日本“OYO"牌。

通訊功能：RS-232接口。

壓縮機(jī)：法國(guó)'泰康'牌或德國(guó)'比澤爾'。

制冷劑：美國(guó)R23和R404環(huán)保制冷劑。

冷卻系統(tǒng)：全密閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式)或半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)。

系統(tǒng)：微電腦平衡調(diào)溫控制系統(tǒng)。

冷凝器：不銹鋼釬焊板式換熱器。