顆粒分析儀 返回列表頁

 顆粒分析儀 ZM 600圖像分析粒度儀系統(tǒng)是采用圖像法測量顆粒粒度大小、形狀特征、顆粒表面顏色的 顆粒分析系統(tǒng)。產(chǎn)品是由光學掃描平臺、顆粒圖像分析軟件、高分辨率 CCD 線性傳感器等部分組 成。其工作原理是通過專用高分辨率 CCD 線性傳感器和光學掃描平臺，將顆粒圖像信息采集下來并 傳輸?shù)接嬎銠C中，用專門的顆粒圖像分析軟件對顆粒圖像進行分析。結(jié)合智能的背景分離及顆粒邊界搜索算法，將目標顆粒與背景分離，分析出各種測量參數(shù)，并通過顯示器和打印機輸出。

顆粒分析儀 ZM 600該儀器具有超大測量范圍及高分辨率，同時具有直觀、可視、準確、操作簡單、 測量參數(shù)全面等特點。是目前能夠同時測量顆粒粒度、形狀及表面顏色的新型粒度 分析儀器。