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半導(dǎo)體行業(yè)溫度循環(huán)TC

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更新時(shí)間:2021-08-31 18:34:29瀏覽次數(shù):487

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溫度循環(huán)TC試驗(yàn)又名高低溫沖擊試驗(yàn)是半導(dǎo)體元器件元器件行業(yè)的測(cè)試設(shè)備

詳細(xì)介紹

溫度循環(huán) TC試驗(yàn)又名高低溫沖擊試驗(yàn)是半導(dǎo)體元器件元器件行業(yè)的測(cè)試設(shè)備。在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害,用于考核器件在短期內(nèi)反復(fù)承受溫度變化(循環(huán)流動(dòng)的空氣)的能力及不同膨脹系數(shù)材料之間的熱匹配性能。


滿足標(biāo)準(zhǔn):
GB/T 4937-1995 第Ⅲ篇 1.1
GB/T 2423.22-2012 7

主要技術(shù)參數(shù):

設(shè)計(jì)和技術(shù)參數(shù)(TCT系列)
型號(hào)LS-TCT-401LS-TCT-402LS-TCT-403LS-TCT-501LS-TCT-502LS-TCT-503LS-TCT-601LS-TCT-602LS-TCT-603
箱體設(shè)計(jì)
提籃容積(升)276412527641252764125
試驗(yàn)箱內(nèi)箱容積尺寸
(mm)
寬(W)300400500300400500300400500
高(H)300400500300400500300400500
深(T)300400500300400500300400500
試驗(yàn)箱外箱尺寸
(mm)
寬(W)118012801380118012801380118012801380
高(H)185019502050185019502050185019502050
深(T)180190200018019020001801902000
溫度試驗(yàn)參數(shù)
溫度范圍
熱箱
+80~200+80~200+80~200
溫度范圍
冷箱
-10~-60-20~-70-30~-80
測(cè)試溫度范圍-40~+150 -55~+150 -65~+150
溫度波動(dòng)度 ±0.5~1.0
溫度均勻度 ±0.5~2.0
升溫平均速率1/min3~5
降溫平均速率2/min1
熱箱冷箱轉(zhuǎn)換時(shí)間sec<10
恢復(fù)時(shí)間min<15
校準(zhǔn)值
熱箱1
125125150
校準(zhǔn)值
冷箱2
-40-55-65
冷卻方式水冷或風(fēng)冷




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