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強(qiáng)磁場(chǎng)低溫近場(chǎng)掃描顯微系統(tǒng)

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更新時(shí)間:2021-07-28 13:24:07瀏覽次數(shù):333

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強(qiáng)磁場(chǎng)低溫近場(chǎng)掃描顯微系統(tǒng)

詳細(xì)介紹

強(qiáng)磁場(chǎng)低溫近場(chǎng)掃描顯微系統(tǒng)


型號(hào):attoSNOM-Ⅲ
廠家:德國(guó)Attocube Systems AG公司技術(shù)指標(biāo):
1. 配有兩個(gè)高精度定位的探針臺(tái):
分別用于SNOM探針和額外光纖定位與移動(dòng);
2.工作溫度:1.8K-300K;         
3. 磁場(chǎng)強(qiáng)度:7Tesla;
4.液氦消耗速率:0.25 l/hr;    
5.溫度穩(wěn)定性:<0.05 K;
6.成像模式:形貌成像、反射光信號(hào)成像、投射光信號(hào)成像;
7.反饋調(diào)制方式:振幅調(diào)制、相位調(diào)制、頻率調(diào)制等;
8.樣品粗選區(qū)范圍:5×5×5mm3;  
9.粗位移步長(zhǎng):300K時(shí)為0.05-3μm;4K時(shí)為10-500nm
10.掃描范圍:300K時(shí)為40×40μm2;4K時(shí)為30×30μm2
11.典型分辨率:<200nm(取決于aperture的配置)
12. Z方向噪音:<50 pm/√Hz;Z方向分辨率:0.12 pm(掃描模式)
13.將來(lái)可進(jìn)行功能拓展,選件包括:共聚焦顯微鏡、原子力顯微鏡
14.將來(lái)可進(jìn)行工作溫度的拓展:300mK或更低
主要功能及應(yīng)用范圍
AttoSNOM-Ⅲ系統(tǒng)是上一臺(tái)能在低溫與強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境中,進(jìn)行近場(chǎng)光學(xué)研究的設(shè)備,該系統(tǒng)適用于對(duì)各種材料的近場(chǎng)光學(xué)性質(zhì)測(cè)量,其研究范圍包括了物理、材料、化學(xué)、生物等科學(xué)。所能測(cè)量的材料有金屬、半導(dǎo)體、磁性材料、有機(jī)材料等等,材料的形式可以是薄膜、塊材、單晶和納米材料等等。

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