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E4981A 電容計

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市世家儀器有限公司
  • 品       牌
  • 型       號E4981A
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2023/12/26 11:19:15
  • 訪問次數(shù)78
產(chǎn)品標(biāo)簽:

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深圳市世家儀器有限公司是國內(nèi)儀器儀表行業(yè)中的產(chǎn)品代理商、系統(tǒng)集成商、綜合服務(wù)商之一。本公司建立了覆蓋華北、東北、華東,完善的銷售和服務(wù)網(wǎng)絡(luò)。世家儀器主要經(jīng)營的品牌有Keysight安捷倫、美國泰克Tektronix、美國福祿克Fluke、吉時利 等眾多儀器品牌。主要銷售信號發(fā)生器、LCR測試儀、示波器、電源、頻率計、功率計、音頻分析儀等高頻儀器儀表。其客戶遍及高等院校、科研院所、電子制造業(yè)等行業(yè)。能夠根據(jù)客戶的使用需求,為客戶提供各種針對行業(yè)應(yīng)用的完整測試解決方案,同時可以為國內(nèi)客戶提供國際通行的電子測試儀器租賃解決方案。世家儀器已成為集電子儀器銷售、維修、租賃為一體的綜合服務(wù)商。世家儀器倫秉承“誠信,用戶至上”的原則,以科技鑄就品牌、以品質(zhì)開拓市場的理念,竭誠為海內(nèi)外客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。為客戶提供“更經(jīng)濟豐富的產(chǎn)品選擇、更有效全面的專業(yè)服務(wù)”。世家儀器倫秉承“誠信,用戶至上”的原則,以科技鑄就品牌、以品質(zhì)開拓市場的理念,竭誠為海內(nèi)外客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。為客戶提供“更經(jīng)濟豐富的產(chǎn)品選擇、更有效全面的專業(yè)服務(wù)”。
TDS計
描述E4981A 電容計可為生產(chǎn)線中的陶瓷電容器測試提供高速、可靠的測量。E4981A 能夠精確測量從低值到高值的電容,從而可以提高測試吞吐量,同時確保在陶瓷電容器測試中的元件具有出色的質(zhì)量。
E4981A 電容計 產(chǎn)品信息
  • 主要特性與技術(shù)指標(biāo)

    測量時間

    高速測量:2.3 ms(1 MHz)、3.0 ms(1 kHz)、11.0 ms(120 Hz)

    基本精度

    精確的 C-D 測試: 0.07%,0.0005

    更多特性

    9 倉室(Bin)分類器

    256 多通道校正

    SCPI 命令和處理器/掃描儀接口與 4268A 和 4288A 兼容

    對測試信號的電平進行補償,用以進行高價值陶瓷電容器測試

    通用 PC連通性(LAN、USB 和 GPIB)

    描述

    E4981A 電容計可為生產(chǎn)線中的陶瓷電容器測試提供高速、可靠的測量。E4981A 能夠精確測量從低值到高值的電容,從而可以提高測試吞吐量,同時確保在陶瓷電容器測試中的元件具有出色的質(zhì)量。

  • Main features and technical indicators

    Measuring time

    High-speed measurement :2.3 ms (1 MHz), 3.0 ms (1 kHz), 11.0 ms (120 Hz)

    Basic precision

    Accurate c-d test: 0.07%, 0.0005

    More features

    Bin classifier

    256 multi-channel calibration

    The SCPI command and processor/scanner interface are compatible with 4268A and 4288A

    The level of the test signal is compensated for the high-value ceramic capacitor test

    Universal PC connectivity (LAN, USB and GPIB)

    describe

    E4981A capacitance meter can provide high speed and reliable measurement for ceramic capacitor test in production line. E4981A can accurately measure capacitance from low to high values, thus improving test throughput while ensuring excellent quality of components in ceramic capacitor testing.


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