絕緣板耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀

絕緣板耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀絕緣板耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀

擊穿的判斷在電擊穿的同時(shí)，回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開(kāi)或熔絲燒斷．但是有時(shí)也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路囂跳開(kāi)．因此，斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配，否則，斷路器可能會(huì)在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在好的條件下，也存在周?chē)劫|(zhì)先擊穿的情況也會(huì)發(fā)生。因此，在試驗(yàn)過(guò)程中要注意觀(guān)察和檢測(cè)這些現(xiàn)象，若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿，應(yīng)在報(bào)告中注明．注：對(duì)漏電檢測(cè)電路敏感性特別重要的那些材料，在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說(shuō)明。在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷，無(wú)論通道是否充有碳粒，當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道．當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)，要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效（見(jiàn)5.2）?？梢酝ㄟ^(guò)檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來(lái)進(jìn)行鑒別，再次施加的電壓值應(yīng)小于 一次施加的擊穿電壓值。試驗(yàn)證明，再次施加的電壓值為一次擊穿電壓值的50%比較合適，然后用 與一次試驗(yàn)相同的方法升壓直到破壞。試驗(yàn)次數(shù)除非另有規(guī)定，通常應(yīng)做5次試驗(yàn)，取試驗(yàn)結(jié)果的中值作為電氣強(qiáng)度或擊穿電壓的值。如果任何一個(gè)試驗(yàn)結(jié)果 當(dāng)試驗(yàn)并非用于例行的質(zhì)量控制時(shí)，必須做較多的試樣，具體的數(shù)量與材料的分散性和所用的統(tǒng)計(jì)分析方法有關(guān)。 對(duì)并非用于例行的質(zhì)量控制試驗(yàn)．參見(jiàn)附錄A對(duì)決定需要試驗(yàn)次數(shù)和數(shù)據(jù)分析參考是有用的。

報(bào)告除非另有規(guī)定，報(bào)告應(yīng)包括如下內(nèi)容

a) 電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀（電壓擊穿試驗(yàn)儀）被試材料的全稱(chēng)，試樣及其制備方法的說(shuō)明；

b) 電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀（電壓擊穿試驗(yàn)儀）電氣強(qiáng)度的中值<以kV/mm表示>或擊穿電壓的中值（以kV表示）；

c) 電壓擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀（電壓擊穿試驗(yàn)儀）每個(gè)試樣的厚度<見(jiàn)5.4)；

d) 試驗(yàn)時(shí)所用的周?chē)劫|(zhì)及其性能；

e) 電極系統(tǒng)；

f) 施加電壓的方式及頻率；

g) 電氣強(qiáng)度的各個(gè)值（以kV/mm表示>或擊穿電壓的各個(gè)值<以kV表示）；

h) 在空氣中或在其他氣體中試驗(yàn)時(shí)的溫度、壓力和濕度，若在液體中試驗(yàn)時(shí)周?chē)劫|(zhì)的溫度；

i) 試驗(yàn)前條件處理；

j）擊穿類(lèi)型和位置的說(shuō)明。

如果只需要簡(jiǎn)單的結(jié)果報(bào)告，則應(yīng)該報(bào)告前6項(xiàng)內(nèi)容及低值和高值。