耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀耐電壓強(qiáng)度試驗(yàn)儀

升壓方式 短時(shí)<快跑>試驗(yàn) 將試驗(yàn)電壓由零開始以均勻的速度升高直至擊穿發(fā)生。對被試材料選擇開壓速度時(shí)，應(yīng)使大多數(shù)擊穿發(fā)生在(10～20) s之間。 對于擊穿電壓有顯著 差異的材料，也有可能在這個(gè)時(shí)間范圍以外發(fā)生破壞 如果大多數(shù)擊穿都發(fā)生在(10～20) s之間，則認(rèn)為試驗(yàn)是成功的。升壓速度應(yīng)從下述中選取：100V/s,200 V/s, 500V/s，1000 V/s，2000v /s, 5000v /s等等注：對于大多數(shù)材料，通常使用500 V/s的升壓速度，對模塑材料，推薦使用2 000 V/s升壓速度，以便獲得與IEC 6029 6, 2003相適應(yīng)的可比數(shù)據(jù)。

20 s逐組升壓試驗(yàn) 將40%的預(yù)計(jì)短時(shí)擊穿電壓施加于試拌上。 假如不知道短時(shí)擊穿電壓預(yù)計(jì)值，則應(yīng)按10. 1 的方法來得到。 假如試樣耐受這個(gè)電壓20 s還未擊穿，則應(yīng)按表1規(guī)定的增量逐級增加電壓。 每一次增加的電壓應(yīng)立即且連續(xù)施加20s直至發(fā)生擊穿。 升壓要盡可能地快并無任何瞬態(tài)過電壓，級間升壓所用的時(shí)間應(yīng)包括在較高一級電壓的20 s期間內(nèi)。如果擊穿發(fā)生在從起始試驗(yàn)算起少于6級的電壓內(nèi)，則用更低的起始電壓再做5個(gè)試樣的試驗(yàn)。根據(jù)試樣能耐受20s而不擊穿的高試驗(yàn)電臣來確定電氣強(qiáng)度。 慢連升壓試驗(yàn)（120～240) s從40%的預(yù)計(jì)短時(shí)擊穿電壓開始勻速升壓，使擊穿發(fā)生在(120～240) s之間。 對于擊穿電壓有顯著差異的材料來說，有些試樣可能在此時(shí)間范圍以外發(fā)生破壞， 如果大多數(shù)擊穿發(fā)生在(120～240) s 之間，則認(rèn)為是滿意的。 選擇升壓速度時(shí)應(yīng)從下列數(shù)據(jù)中開始選擇：2 /sV兒，5 V/s,10 V/s,20 V/s, 50 V/s,100 V/s,200 V/s,500 V/s,l 000 V/s，等等。 60s邏輯升壓試驗(yàn)除非另有規(guī)定，應(yīng)按10. 2進(jìn)行試驗(yàn)，但每一級中的耐壓時(shí)間為60 s,極慢速升壓試驗(yàn)（300～600) s除非另有規(guī)定，應(yīng)按10.3進(jìn)行試驗(yàn)，但擊穿應(yīng)發(fā)生在（300～600) s之間。 從下列數(shù)據(jù)中選擇升壓速度：1V/s,2 V兒，5 V/s,10 V/s,20 V兒，50 V/s,100 V/s,200 V/s，等等。

注:在10.3中所述的(120～240) s的慢速升壓試驗(yàn)和在10.5中所述的（300～600) s的極慢速升壓試驗(yàn)所得結(jié)果與20 s逐級升壓(10, 2）或60 s逐級升壓(10, 4）所得結(jié)果大致相似 當(dāng)使用現(xiàn)代自動(dòng)設(shè)備時(shí)，前兩者較逐級升壓試驗(yàn)更為方便且采用這兩種慢速開壓試驗(yàn)也使自動(dòng)設(shè)備的使用成為可能.檢查試驗(yàn)當(dāng)做檢查或耐壓試驗(yàn)時(shí)，要求施加一個(gè)預(yù)先確定的電壓值。 即將該電壓盡可能快而準(zhǔn)確地升到所要求的值，升壓過程中不出現(xiàn)任何瞬態(tài)的過電壓。然后將所要求的電壓值維持到規(guī)定的時(shí)間。擊穿的判斷在電擊穿的同時(shí)，回路中電流增加和試樣兩端電壓下降。電流的增加可使斷路器跳開或熔絲燒斷．但是有時(shí)也可由于閃絡(luò)、試樣充電電流、漏電或局部版電電流、設(shè)備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路囂跳開．因此，斷路器應(yīng)與試驗(yàn)設(shè)備及被試材料的特性相匹配，否則，斷路器可能會在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當(dāng)試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。即使在好的條件下，也存在周圍媒質(zhì)先擊穿的情況也會發(fā)生。因此，在試驗(yàn)過程中要注意觀察和檢測這些現(xiàn)象，若發(fā)現(xiàn)媒質(zhì)擊穿，應(yīng)在報(bào)告中注明．注：對漏電檢測電路敏感性特別重要的那些材料，在這種材料的標(biāo)準(zhǔn)中也應(yīng)作同樣的說明。在垂直于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)通常容易判斷，無論通道是否充有碳粒，當(dāng)擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道．當(dāng)平行于材料表面方向試驗(yàn)時(shí)，要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現(xiàn)象還是由閃絡(luò)引起的失效（見5.2）?？梢酝ㄟ^檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來進(jìn)行鑒別，再次施加的電壓值應(yīng)小于 一次施加的擊穿電壓值。試驗(yàn)證明，再次施加的電壓值為一次擊穿電壓值的50%比較合適，然后用 與一次試驗(yàn)相同的方法升壓直到破壞。試驗(yàn)次數(shù)除非另有規(guī)定，通常應(yīng)做5次試驗(yàn)，取試驗(yàn)結(jié)果的中值作為電氣強(qiáng)度或擊穿電壓的值。如果任何一個(gè)試驗(yàn)結(jié)果 當(dāng)試驗(yàn)并非用于例行的質(zhì)量控制時(shí)，必須做較多的試樣，具體的數(shù)量與材料的分散性和所用的統(tǒng)計(jì)分析方法有關(guān)。 對并非用于例行的質(zhì)量控制試驗(yàn)．參見附錄A對決定需要試驗(yàn)次數(shù)和數(shù)據(jù)分析參考是有用的。