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日立 高精度實(shí)時(shí)三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)NX9000

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地上海市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2024/6/19 8:01:08
  • 訪問次數(shù)111
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思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司專注于光學(xué)測量儀器的銷售與服務(wù), 思耐達(dá)主要致力于為合作伙伴提供SEM掃描電子顯微鏡、AFM原子力顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、FIB聚焦離子束顯微鏡、共聚焦顯微鏡、3D顯微鏡、白光干涉儀、臺階膜厚測量儀等光學(xué)儀器的銷售和相關(guān)的測量服務(wù),產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于化工、電子、半導(dǎo)體、醫(yī)療、材料、生物技術(shù)、食品以及政府單位和高??蒲性核阮I(lǐng)域。思耐達(dá)的由來:誠:誠乃思耐達(dá)人做人做事之根本,古人說:索道于當(dāng)世者,莫過于誠!思耐達(dá)人不自欺,亦不欺人。思耐達(dá)人勇于面對自身的不足,虛心接受他人的批評與建議。敬:“敬人者,人恒敬之”,月滿則虧,物盛則衰!要想成大事,需懷敬畏之心,收斂鋒芒,尊重他人,低調(diào)做人,高調(diào)做事。思耐達(dá)人恭順帶人,充分尊重事實(shí)和每一位伙伴的每一個(gè)需求,力爭雙贏。靜:遇事有靜氣,泰山崩于前而不亂,沉穩(wěn)淡定,耐心應(yīng)對。思耐達(dá)人面對他人的質(zhì)疑,不亂方寸,不改初心,洞察問題本質(zhì),坦然地為合作伙伴提供合理的解決方案。謹(jǐn):禍從口出,謹(jǐn)小慎微,凡事不張揚(yáng)。思耐達(dá)人只闡述客觀事實(shí),絕不詆毀競爭品牌和對手。恒:持之不懈,意志篤定,困苦不退縮,挫敗不止步。人而無恒,終身一無所成。思耐達(dá)人定不嫌繁瑣、持之以恒為每一位合作伙伴提供全面的售前診斷和售后支持,始終如一。 思耐達(dá)——認(rèn)真地思考每位伙伴的需求,做好每個(gè)細(xì)節(jié),耐心地為每位合作伙伴提供合理的解決方案,最終達(dá)成合作共贏!品質(zhì)能通過行業(yè)考驗(yàn)企業(yè)提供的服務(wù):光學(xué)精密儀器銷售.售前產(chǎn)品測試.第三方測量服務(wù).售后技術(shù)支持維修.培訓(xùn)等服務(wù)。我們的宗旨&愿景企業(yè)宗旨:一切以合作伙伴的需求為中心.提供專業(yè)的解決方案并協(xié)助合作伙伴解決問題。企業(yè)愿景:"但愿人長久,千里共同途".服務(wù)大眾.力爭成為同行業(yè)優(yōu)全的光學(xué)儀器整體測量方案服務(wù)商。企業(yè)文化企業(yè)文化:“誠、敬、靜、謹(jǐn)、恒”,五字行事準(zhǔn)則。企業(yè)團(tuán)隊(duì):現(xiàn)有行業(yè)銷售工程師3名,行業(yè)售前技術(shù)工程師3名,行業(yè)售后工程師3名等。
電子掃描顯微鏡
產(chǎn)品介紹 通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察,采集一系列連續(xù)截面圖像,并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。 采用的鏡筒布局,從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)機(jī)型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。
日立 高精度實(shí)時(shí)三維分析FIB-SEM三束系統(tǒng)NX9000 產(chǎn)品信息

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產(chǎn)品介紹:


追求理想的三維結(jié)構(gòu)分析

通過自動重復(fù)使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀察,采集一系列連續(xù)截面圖像,并重構(gòu)特定微區(qū)的三維結(jié)構(gòu)。

采用的鏡筒布局,從材料、設(shè)備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)傳統(tǒng)機(jī)型難以企及的高精度三維結(jié)構(gòu)分析。


產(chǎn)品特點(diǎn):


·SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,形成三維結(jié)構(gòu)分析的鏡筒布局

·融合高亮度冷場發(fā)射電子槍與高靈敏度檢測系統(tǒng),從磁性材料到生物組織——支持分析各種樣品

·通過選配口碑良好的Micro-sampling?系統(tǒng)*和Triple Beam?系統(tǒng)*,可支持制作高品質(zhì)TEM及原子探針樣品

垂直入射截面SEM觀察可忠實(shí)反映原始樣品結(jié)構(gòu)

SEM鏡筒與FIB鏡筒互成直角,實(shí)現(xiàn)FIB加工截面的垂直入射SEM觀察。

舊型FIB-SEM采用傾斜截面觀察方式,必定導(dǎo)致截面SEM圖像變形及采集連續(xù)圖像時(shí)偏離視野,直角型結(jié)構(gòu)可避免出現(xiàn)此類問題。

通過穩(wěn)定獲得忠實(shí)反映原始結(jié)構(gòu)的圖像,實(shí)現(xiàn)高精度三維結(jié)構(gòu)分析。

同時(shí),F(xiàn)IB加工截面(SEM觀察截面)與樣品表面平行,有利于與光學(xué)顯微鏡圖像等數(shù)據(jù)建立鏈接。


關(guān)鍵詞:顯微鏡
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