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| X-7600 SDD/LE型X射線熒光光譜儀 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
產(chǎn)地：美國 主要特點： 1）X-7600SDD/LE 在帶有二次靶技術的能量色散型X射線熒光分析儀領域中，引進技術，重新定義了“”的概念,使得元素周期表中所有元素的檢測都能得到*結果。 2）為分析調查和開發(fā)應用提供了高性能的解決方案，同時，為商業(yè)實驗室分析提供了一種低成本、高效益的選擇。 3）以高精度、sub-ppm檢測精度為特色，在環(huán)保、地質和貴金屬檢測領域中，不管是輕元素還是重元素分析，X-7600SDD LE與其他分析儀器相比都具有更加的檢測性能； 4）提高了輕元素例如F、Ne、Na的檢測精度； 5）SDD 探測器具有電子噪音低和高計數(shù)率的特點，與Si-PIN 探測器相比，SDD 探測器具有更高的能量分辨率并能更快的得到分析結果； 6）8 個二次靶為快速精確的定量分析提供了zui大程度的靈敏度，甚至是像合金、塑料、地質這樣復雜的基質中。*自定義的二次靶使得檢測結果能達到sub-ppm 級別； 7）能夠分析液體、固體、泥漿、粉末、片狀物體等。并且分析樣品室能夠滿足不用形狀和尺寸樣品的需要； 8）10個位置的自動進樣器整體設計允許了zui低限度的操作員干預、自動加載以及無人照管操作； 9）該儀器檢測快速，精準，使用方便。它具有堅固的計算機硬件和強大的分析軟件能檢測限低； 10）多通道采集分辨率為改良過的探測器提供優(yōu)質的峰與峰的比率。 技術參數(shù)：
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分析儀
主要特點：
1)X-7600SDD/LE 在帶有二次靶技術的能量色散型X射線熒光分析儀領域中，引進技術，重新定義了“”的概念,使得元素周期表中所有元素的檢測都能得到Z佳結果。
2)為分析調查和開發(fā)應用提供了高性能的解決方案，同時，為商業(yè)實驗室分析提供了一種低成本、高效益的選擇。
美國Xenemetrix;X-7600 SDD/LE型X射線熒光光譜儀 產(chǎn)品信息
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